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x射線鍍層與合金的材料分析儀

XDL®系列測(cè)量?jī)x器具有電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)的軸（可選）和從上至下的測(cè)量方向，可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)串行測(cè)試。 X射線源，濾光片，光圈和檢測(cè)器的不同版本使選擇具有適合您的特定測(cè)量任務(wù)的X射線設(shè)備成為可能。

典型應(yīng)用領(lǐng)域：
   • 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來(lái)料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控。
  • 研發(fā)項(xiàng)目
   • 電子行業(yè)
   • 接插件和觸點(diǎn)
   • 黃金、珠寶及手表行業(yè)
   • 測(cè)量印刷線路板上僅數(shù)個(gè)納米的Au和Pd鍍層
   • 痕量分析
   • 根據(jù)高可靠性要求測(cè)量鉛Pb含量
   • 分析硬質(zhì)鍍層材料

特征：
   • 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。z高工作條件： 50 kV, 50W
   • X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓?/span>PIN二極管
   • 準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
   • 基本濾片：3個(gè)，可自動(dòng)切換
   • 測(cè)量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
   • 可編程XY平臺(tái)
   • 視頻攝像頭可用來(lái)實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置，十字線上有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測(cè)量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
   • 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型熒光分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來(lái)測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測(cè)量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過(guò)1000ppm。盡管XDAL測(cè)量Pb含量的測(cè)量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測(cè)量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測(cè)量需求。